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IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)電容電阻尺寸方案!

作者 : 安徽思普泰克發(fā)布時(shí)間 : 2020-03-10 瀏覽 : 212 次
注明:IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)項(xiàng)目,均需在影像下清晰可見(jiàn)才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于150件(取決于產(chǎn)品送料速度)
一、檢測(cè)內(nèi)容及要求
 
檢測(cè)內(nèi)容:
       最大尺寸長(zhǎng)30mm*寬15mm的產(chǎn)品的尺寸檢測(cè)
序號(hào) 檢測(cè)位置 檢測(cè)方式 是否可檢
1 針腳臺(tái)階尺寸 背光檢測(cè) 可檢
2
 

 

 
3
 

 

 
4 倒角位置
 
不可檢
5 斜面位置
 
不可檢

注明:IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)項(xiàng)目,均需在影像下清晰可見(jiàn)才能檢測(cè)。檢測(cè)效率:每分鐘檢測(cè)數(shù)量 不低于150件(取決于產(chǎn)品送料速度)

二、設(shè)備組成及主要機(jī)構(gòu)
 
設(shè)備型號(hào):SP-T300非標(biāo)定制機(jī)          外形尺寸:900*800*1850mm
         組成部件清單:
序號(hào) 部件名稱(chēng) 規(guī)格型號(hào) 數(shù)量 備注
1 視覺(jué)檢測(cè)軟件 SIPOTEK 1套 數(shù)據(jù)可上傳
2 工業(yè)電腦 SIPOTEK定制 1套
 
3 顯示器 PHILIPS  19”液晶顯示器 1臺(tái)
 
4 工業(yè)相機(jī) Barsler工業(yè)相機(jī) 1套
 
5 相機(jī)調(diào)節(jié)伺服模組 SIPOTEK定制 1套
 
6 工業(yè)鏡頭 FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 1套
 
7 光源 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 1套
 
8 檢測(cè)平臺(tái) 專(zhuān)業(yè)光學(xué)玻璃載臺(tái) 1套
 
9 伺服電機(jī) 松下·PANASONIC 1套
 
10 控制系統(tǒng) SIPOTEK定制 1套
 
11 PLC運(yùn)動(dòng)協(xié)作 松下·PANASONIC 1套
 
IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備外觀3D立體圖

IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
三、樣件測(cè)試圖片:
頂部背光檢測(cè)原圖(G8301909-102-LFS1):

頂部背光檢測(cè)原圖

 
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8301909-102-LFS1):OK

頂部背光檢測(cè)良品分析圖
頂部背光檢測(cè)原圖(G8340010-001-LFS1):

頂部背光檢測(cè)原圖

頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8340010-001-LFS1):OK

頂部背光檢測(cè)良品分析圖

頂部背光檢測(cè)原圖(34475-001-LFS1):

頂部背光檢測(cè)原圖

頂部背光檢測(cè)良品分析圖(34475-001-LFS1):OK

頂部背光檢測(cè)良品分析圖
頂部背光檢測(cè)原圖(LED-45188551-LF):

IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備

 
頂部背光檢測(cè)良品分析圖(LED-45188551-LF):OK

IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
 
頂部背光檢測(cè)原圖(TS1025186-00-AS1):

IC芯片自動(dòng)化視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備

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頂部背光檢測(cè)原圖(G8386152-003-AS1):

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頂部背光檢測(cè)良品分析圖(G8386152-003-AS1):OK

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頂部背光檢測(cè)原圖(P1071964-S1):

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頂部背光檢測(cè)良品分析圖(P1071964-S1):OK

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